首页
产品中心
类别检索
品牌检索
IECUBE 查看IECUBE所有自研产品 >
集成电路
IECUBE-3835数智化半导体参数实测分析平台 IECUBE-3839集成电路研发及量产测试通用平台 IECUBE-3830集成电路工艺制造VR实训平台 IECUBE-3100集成电路测试实训平台
机电控制&自动化
IECUBE-2830M 直流电机智能控制系统实验平台 IECUBE-2830MP直流电机与倒立摆智能控制系统实验平台 IECUBE-2830L “多对象all in one”的控制系统实验平台 IECUBE-2831S双轴智能板球系统 IECUBE-2831C数智化三轴智能板球系统 IECUBE-2835多模态轮足机器人开发平台 IECUBE-2840 斯图尔特智能动力座舱
测试测量&智能感知
IECUBE-5840自动驾驶智能感知融合实验平台 IECUBE-1110旋转设备综合实验台 IECUBE-1430机器视觉综合实验平台​ IECUBE-7850智能网络化无线测试/监控系统​
工科基础
IECUBE-1700基础教学实验平台 AERO可重构双旋翼航空航天实验平台 IECUBE-4000基础教学实验平台
AICube 查看AICube >
IECUBE AI相关工科产品
IECUBE Tutorial 新一代AI动态数字讲义生成系统
NI 查看NI所有产品 >
基于PXI平台设备
高性价比PXI平台：释放无限可能 x 系列：PCIe 和 PXIe PXIe-4311 高性能模拟输入模块 PXIe-4309 PXI高性能测试设备 STS集成电路量产测试平台
基于CRIO平台设备
CompactRIO分布式测量与控制设备
基于PC控制设备
NI-9320 D-SUB 基于PC的台式测试测量设备 全新USB-C cDAQ 机箱与卡扣式连接器模块 NI FieldDAQ NI CompactDAQ
测试自动化软件
LabVIEW系统设计软件 LabVIEW+套件 TestStand测试管理软件 VeriStand原型验证系统软件
免费交互式测试软件
NI Nigel™ AI FlexLogger数据采集软件 InstrumentStudio™软件
测试分析和运行软件
SystemLink测试系统和数据管理软件 DIAdem测试数据处理及分析软件 OptimaIPlus GO
其他
NI Ettus USRP X420 NI Ettus USRP B206mini-i Multisim电路仿真及设计平台 ELVIS多学科实验平台 myDAQ学生​数据​采集​设备 myRIO便携式的嵌入式学生设计设备 NI mioDAQ USB数据采集设备 入门级以太网 cDAQ 机箱：cDAQ-9183/9187 以太网cDAQ机箱、NI 9204模块及优惠套装 USRP通用软件无线电平台
Digilent 查看Digilent所有产品 >
Digilent硬件
AD3数据采集学生口袋设备 ADP2230混合信号示波器 （MSO） ADP3450便携式高分辨率混合信号示波器 ADP5250便携式多功能一体式仪器 DPS3340便携式可编程电源 DD数字仪器学生口袋设备 ADP5000系列便携式多功能一体化测试仪器
Digilent软件
WaveForms多功能仪器应用软件
解决方案
工科基础解决方案
ADS数电、模电、电路原理解决方案 ELVIS多学科实验室解决方案
专业基础解决方案
通信原理实验室解决方案 控制原理实验室解决方案 传感器&测试技术实验室解决方案 机电控制数智化实验与实践教学实验室 5G通信协议＆网络实训课程 5G毫米波无线电射频技术实训课程
行业应用解决方案
IECUBE特色集成电路专业建设整体解决方案 能源实训中心解决方案 卫星互联网通信课程解决方案 自动驾驶智能感知课程解决方案
教育信息化解决方案
IECUBE Online数智化实验平台 虚拟仿真远程在线实验室
院校科研解决方案
IECUBE-阵列测试解决方案 半导体原型验证系统平台和技术服务 仿生感知大规模阵列测试解决方案 OPTOMOS-1000 光电探测表征系统 IECUBE-超声探伤解决方案 高校芯片研发验证平台系统 高效精密的ADC测试方案 纳米发电机阵列测试解决方案 IECUBE-语义通信系统验证平台 可重构智能表面解决方案(RIS) 无线通信研究
客户案例
基础教学案例
电工电子 信号与系统 控制原理 通信 传感器&测试 学生创新
产教融合案例
微电子和集成电路 虚拟仪器 AI+X 生物医电
资源中心
产教融合支持
集成电路产教融合高峰论坛 全国大学生集成电路创新创业大赛“曾益慧创杯” 教育部产学合作协同育人项目​ 集成电路专业教育部课题申报
高等工程教育方法论
集成电路产教融合 校企合作 产品干货文章 教改前沿/政策解读 行业技术/科研干货 战略合作
服务与支持
服务体系 服务体系 下载专区 下载专区 解决方案知识库 解决方案知识库
关于我们
曾益慧创介绍 曾益慧创介绍 曾益慧创生态 曾益慧创生态 加入我们 加入我们 新闻中心 新闻中心 联系我们 联系我们
中/EN
首页 > 服务支持 > FAQ
返回列表
Q
如何搭建针对忆阻器/突触器件阵列的高通量电学特性测试系统？
A

针对后摩尔时代的忆阻器及神经形态器件研究，IECUBE  提供基于NI PXIe模块化仪器的阵列测试解决方案。该系统集成高密度NI PXIe-4163 源测量单元 (SMU)和矩阵开关，支持  32x32 甚至更大规模的阵列寻址。

 
通过LabVIEW 深度开发的控制软件，系统可实现fA级(单点)至pA级(阵列)的高精度电流测量，并支持脉冲  (Pulse) I-V、C-V 及突触可塑性测试。相比传统台式仪表，NI PXI 平台  提供了更高的通道密度和纳秒级的同步精度，是高校微电子实验室的最佳选择。    


Q
针对忆阻器、突触器件等新型存算一体芯片的研究，IECUBE 能提供什么样的测试方案？
A

IECUBE 推出的阵列测试解决方案是专为后摩尔时代的新型芯片（如忆阻器、神经电阻器、相变存储器）研发设计的。该方案基于NI PXIe架构，集成了高密度源测量单元 (SMU)  与矩阵开关，能实现对 32x32 或 100x100 甚至更大规模阵列器件的并行测试。

我们通过 LabVIEW 实现了模块联调，支持 fA 级 (单点) 至 pA 级 (阵列) 的电流灵敏度，可进行脉冲 (Pulse) 和直流 (DC) 的 I-V、C-V 及突触可塑性综合测试，助力高校突破科研难题。    


准备好定制您专属的工程教育产教融合方案了吗？
曾益慧创团队特别希望与您交流，分享我们的行业洞见和成功经验，为您量身定制解决方案。
立即沟通