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高效精密的ADC测试方案

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高效精密的ADC测试方案
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高效精密的ADC解决方案
高效精密的ADC解决方案
本套ADC测试方案能够在200 kSPS采样率下,高效准确地测量16-bit SAR ADC的性能指标。本系统通过软件和硬件的高度协同配合, 在集成化的机箱完成多个ADC的动态以及静态测试项目,具有低成本,高效率,易维护的特点,可应用于SAR ADC测试。
200

kSPS采样率

16-bit

SAR ADC性能指标

系统功能概述
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Demo示意
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Demo结果图
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